X射線(xiàn)無(wú)損鍍層厚度測試儀

• 分析含量：ppm到99.9%
• 溫度適應范圍：15℃至30℃
• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
• 樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
• 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
• 移動(dòng)平臺：精密二維動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。

X射線(xiàn)無(wú)損鍍層厚度測試儀基本原理

X射線(xiàn)熒光就是被分析樣品在X射線(xiàn)照射下發(fā)出的X射線(xiàn)，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對X射線(xiàn)熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線(xiàn)熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識，對每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō)，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線(xiàn)照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時(shí)原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時(shí)，其他的外層電子便會(huì )填補這一空位，即所謂的躍遷，同時(shí)以發(fā)出X射線(xiàn)的形式放出能量。

由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線(xiàn)的能量也是特定的，稱(chēng)之為特征X射線(xiàn)。通過(guò)測定特征X射線(xiàn)的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線(xiàn)的強弱（或者說(shuō)X射線(xiàn)光子的多少）則代表該元素的含量。

X射線(xiàn)無(wú)損鍍層厚度測試儀技術(shù)指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時(shí)分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
長(cháng)期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

天瑞電鍍層測厚儀器X-ray 光譜法：

適用于測定電鍍及電子線(xiàn)路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。

鍍層厚度分析儀根據測量原理一般有以下五種類(lèi)型:

1.磁性測厚法

適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法

適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法

目前國內還沒(méi)有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠(chǎng)家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無(wú)法測量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測量精度也不高。

4.電解測厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來(lái)較其他幾種麻煩。

5.放射測厚法

此種儀器價(jià)格昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合。