電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:穩健的固態(tài)電源保證儀器可運行多種模式（如常規模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節約大量分析時(shí)間及方便研究。
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 (簡(jiǎn)稱(chēng)ICP-MS），是20世紀80年代發(fā)展起來(lái)的一種新的微量（10-6）、痕量（10-9）和超痕量（10-12）元素分析技術(shù)。ICP-MS可測定元素周期表中大部分元素，且具有極低的檢出限、極寬的動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍、譜線(xiàn)簡(jiǎn)單、干擾少、精密度高、分析速度快等性能優(yōu)勢。
ICP-MS2000系列是天瑞自主研發(fā)產(chǎn)品，目前主推ICP-MS2000B、ICP-MS2000E兩款型號。ICP-MS2000系列儀器各項性能均優(yōu)于國家規范，*滿(mǎn)足不同行業(yè)用戶(hù)應用需求，性?xún)r(jià)比高；目前該產(chǎn)品主要應用于環(huán)境、食品、半導體、醫藥及生理分析、核工業(yè)領(lǐng)域等。
ICP-MS2000系列具有的儀器性能，高效的分析效果。儀器日常運行消耗器材均自主研發(fā)，性?xún)r(jià)比高。同時(shí)我們提供優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)，10分鐘響應、48小時(shí)內上門(mén)服務(wù)、客服中心隨時(shí)跟蹤服務(wù)、保證服務(wù)質(zhì)量。
1.ICP-MS 2000B性能特點(diǎn)
穩健的固態(tài)電源保證儀器可運行多種模式（如常規模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節約大量分析時(shí)間及方便研究。
*的等離子體屏蔽技術(shù)，極大提高儀器的靈敏度，改善低質(zhì)量元素的檢出限。保證冷等離子體模式等應用，無(wú)需使用碰撞/反應氣，即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易電離元素檢出限低至ng.L-1。
2.ICP-MS 2000E性能特點(diǎn)
變頻等離子體，采用推挽互補技術(shù)消除傳統等離子體中存在的電勢差，消除等離子體二次放電現象，并產(chǎn)生較低、較窄的離子能量擴散，極大提高儀器靈敏度。穩健的變頻電源系統保證儀器可運行多種模式（如常規模式、碰撞反應模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節約大量分析時(shí)間及方便研究。
配置六極桿碰撞反應池，采用（H2+He）混合氣既可以KED模式消除ArCl、CaCl對As的干擾；同時(shí)在無(wú)需切換氣體等繁瑣操作的情況下即可消除Ar、ArH、ArO等對K、Ca、Fe的干擾。
配置250位全自動(dòng)進(jìn)樣器，以太通信進(jìn)口，定位精度小于500μm。
ICP-2000系列電感耦合等離子體質(zhì)譜儀同樣均具有以下優(yōu)異的性能及特點(diǎn)：
等離子體位置XYZ三維由計算機控制全自動(dòng)調節，調節幅度至步進(jìn)0.1mm；
炬管為一體式石英同心炬管，避免拆卸式矩管的繁瑣操作以及可能由此導致的損壞；
敞開(kāi)式進(jìn)樣系統結構，插入式安裝，自我定位，維護方便；
高穩定性和精密度的帶撞擊球玻璃霧化室，霧化室標配半導體制冷，對霧化室制冷控溫范圍為-20℃-20℃，制冷迅速可在三分鐘內由室溫降至2℃，以適應不同基體的控溫要求；
接口室由采樣錐、截取錐兩部分組成。標準配置包含采樣錐（錐孔1.1mm），和具有耐鹽性能的截取錐（錐孔0.75mm）；另可根據用戶(hù)實(shí)際需求選配高靈敏度截取錐；
*的活動(dòng)接口門(mén)結構，無(wú)需泄真空即可裝卸采樣錐和截取錐，維護方便；
配置高效率六極桿離子導向系統，在全質(zhì)量范圍內獲得的離子傳輸效率；由計算機控制全自動(dòng)離子聚焦調諧過(guò)程。真空室內的透鏡采用非對稱(chēng)安裝，方便拆裝定位；
離子透鏡包括提取透鏡和偏轉透鏡，采用二次離軸設計，避免中性粒子和電子進(jìn)入質(zhì)量分析器，降低背景；離子透鏡、六級桿和四級桿均為免拆洗維護設計，極大地減少維護工作量；
使用進(jìn)口、超長(cháng)的純鉬四級桿，為儀器提供靈敏度及分辨率；
長(cháng)壽命ETP雙模式檢測器，分成兩部分分列打拿極電子倍增器，由計算機控制自動(dòng)進(jìn)行數/模切換；
友好的人機交互界面，符合國人使用習慣的全中文軟件。提供自動(dòng)控制儀器及其附件的能力，*適應Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)專(zhuān)業(yè)操作系統；
全自動(dòng)分析功能（啟動(dòng)關(guān)閉儀器，炬位調整，等離子體參數，離子透鏡參數，檢測器參數等）。
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