Fischer膜厚儀的標準片校準方法介紹

　　Fischer膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它是非接觸測量，不會(huì )因為磨損而損失精度，尤其適用于在運動(dòng)中或惡劣環(huán)境中進(jìn)行多點(diǎn)測量。而且，相對于超聲波測厚儀精度更高，相對X射線(xiàn)測厚儀沒(méi)有輻射污染。因此，在在線(xiàn)厚度測量方面具有明顯的優(yōu)勢。

　　用Fischer膜厚儀在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來(lái)得到標準曲線(xiàn)。之后以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來(lái)檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　下面小編要與大家分享的是Fischer膜厚儀的標準片校準方法：

　　一、校準箔

　　對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。

　　二、基體

　　1、對于磁性方法，膜厚儀標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數進(jìn)行比較。

　　2、如果待測試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準：

　?。?）在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準。

　?。?）用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。