XULM菲希爾鍍層測厚儀菲希爾鍍層測厚儀：X射線(xiàn)源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開(kāi)槽設計（C型槽）可以測量諸如印刷線(xiàn)路板類(lèi)大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測量室。

Thick800A通用分析儀器 是專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，Thick800A電鍍膜厚測試儀，Thick 800A 電鍍鍍層測厚儀，元素分析儀，通用分析儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺。是一款功能強大的儀器，配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀 此系列產(chǎn)品可測量金屬準直無(wú)法測量的微區，多導毛細聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區域。 可以測量納米級的鍍層，毛細聚焦管能將更多的X射線(xiàn)輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區域上的X射線(xiàn)強度比金屬準直系統高出幾個(gè)數量級。 可以實(shí)現更高的測試精度。

全自動(dòng)鍍層測厚儀、膜厚儀儀器簡(jiǎn)介：XTD-200是一款專(zhuān)用于檢測各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以?xún)鹊漠愋渭邆渚薮蟮膬?yōu)勢；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺，無(wú)人值守，便可實(shí)現多樣品的自動(dòng)檢測。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。產(chǎn)品優(yōu)勢

涂鍍層 環(huán)保ROHS一體機光譜分析儀 性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：小測量面積0.03mm²（加長(cháng)測量時(shí)間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可測量。 4.解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測器：S

全自動(dòng)鍍層測厚儀 XTD-200是一款于檢測各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以?xún)鹊漠愋渭邆渚薮蟮膬?yōu)勢；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺，無(wú)人值守，便可實(shí)現多樣品的自動(dòng)檢測。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法，基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理，從理論上計算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)的熒光強度，在基于此計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。、可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。