鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法，基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理，從理論上計算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)的熒光強度，在基于此計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。、可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。