FMP100高品質(zhì)系列膜厚儀--Fischer

菲希爾系列膜厚儀型號：

DUALSCOPE FMP100

自動(dòng)識別基材，將兩種測量法相結合（磁感應/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進(jìn)行測量。

菲希爾系列膜厚儀

影響測量值的因素與解決方法
使用Fischer測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的Fischer測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準，才能測量。(注：的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準的*功能可達3～10%的精度)
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準好一個(gè)初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?；騾⒄障聴l。
3.基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過(guò)調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5.探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降?；町a(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁，根據檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結構鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì )出現上述現象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì )對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。