鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法，基于熒光X射線(xiàn)激發(fā)的基本原理，從理論上計算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線(xiàn)的熒光強度，在基于此計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。、可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。
儀器簡(jiǎn)介：
XAU-4CS是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設計，是一款一機多用型光譜儀。
應用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿(mǎn)足微區RoHS檢測及成分分析。
被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
鍍層厚度與ROHS分析儀
技術(shù)參數：
1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）
2. 成分低檢出限：1ppm
3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）
4. 涂鍍層低檢出限：0.005μm
5. 小測量直徑□0.1*0.3mm（小測量面積0.03mm²）
標配：小測量直徑0.3mm（小測量面積0.07mm²）
6. 對焦距離：0-30mm
7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量：45KG
10. XY軸工作臺移動(dòng)范圍：50mm*50mm
11. XY軸工作臺大承重：5KG
鍍層厚度與ROHS分析儀
應用領(lǐng)域：
多元迭代EFP核心算法（號：2017SR567637）
專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團隊在A(yíng)lpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法，結合*的光路轉換技術(shù)、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來(lái)校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應用：如NiP/Fe，通過(guò)EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可分析出鎳磷含量比例。
重復鍍層應用：不同層有相同元素，也可測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。
有害元素檢測：RoHS檢測，可滿(mǎn)足鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價(jià)鉻（Cr VI）等有害元素的成分檢測及含量分析
選擇一六儀器的四大理由：
1.一機多用，無(wú)損檢測（涂鍍層檢測-環(huán)保RoHS-成分分析）
2.小測量面積0.002mm²
3.可檢測凹槽0-30mm的異形件
4.輕元素，重復鍍層，同種元素不同層亦可檢測
配置清單：
XAU-4CS是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設計，是一款一機多用型光譜儀。
應用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿(mǎn)足微區RoHS檢測及成分分析。
被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
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